Použitý ICP plazmatický emisní spektrometrCharakteristiky: Nová řada 7500 od společnosti Agilent nabízí vysokou úroveň analytického výkonu díky snadnému použití, flexibilitě, spolehlivosti a vynikajícímu designu pro automatizaci. Nová řada 7500, která je vybavena technologií ORS druhé generace a nabízí široký výběr vzorkového příslušenství, aplikace a servisní podpory, vstupuje do éry ICP-MS v laboratořích. Řada 7500 se skládá ze dvou typů. Agilent 7500cx，Agilent 7500cs

Použitý ICP plazmatický emisní spektrometrVýhody:

1. může rychle detekovat téměř všechny prvky v periodické tabulce současně, kromě vodíku, helia, uhlíku a kyslíku
Vysoká citlivost detekce prvků zui, může dosáhnout limitu detekce úrovně ppq
Dynamický rozsah analýzy s devíti úrovněmi množství od úrovně ppq do úrovně ppm
Vysoká přesnost a citlivost analýzy, méně rušení
5. Rychlá analýza vzorku, může provádět vysoký průtok analýzy
6. Lze použít ve spojení s plynovou chromatografií, kapalnou chromatografií a kapilární elektroforesou pro morfologickou analýzu prvků
Vysoce výkonná Shiled Torch plazmatická štítná technologie s funkcí měkkého extrakce a teplým plamenem
Vysoká citlivost funkce, chladný plamen vysoký výkon na rušení technologie. Běžná analýza a měkká extrakce, studený plamen,
Funkce jako teplý plamen, režim vodíku, režim helia a režim směsi plynu mohou být provedeny během jedné analýzy.
Přepínání.

Vysoce citlivé reaktivní bazény jsou navrženy tak, aby splňovaly požadavky na vysoký výkon, spolehlivost a citlivost při analýze stopových prvků v průmyslu polovodičů. 7500cs je založen na již velmi úspěšném systému ICP-MS Agilent a jeho výkon se stal novým standardem ve vývoji technologie ICP-MS. Osmipolární reakční systém (ORS) společnosti Agilent* otevírá nové možnosti pro odstranění rušení v laboratoři ICP-MS pro analýzu polovodičů a zároveň zachovává citlivost podobnou 7 500 s* v režimu bez plynu. ORS využívá koaxialní reaktivní bazén, který účinně reaguje na složité rušení hmotnostního spektra, které jsou extrémně obtížné řešit v různých vrstvách vzorků polovodičů.