Analyzátor VNF-200 VCSEL je určen pro analýzu povrchových charakteristik blízkého pole a nabízí rychlé měření, vysoké optické rozlišení a vysokou přesnost měření. Přístroj využívá mikrooptický systém v kombinaci s zobrazovacím systémem a je optimalizován podle vlastností VCSEL, aby umožnil analýzu vysoce zvětšeného mikrografického záření VCSEL. Získejte data o uspořádání 2D pole povrchu VCSEL, detekci špatných bodů a jasnosti záření pomocí jednoho měření a současně získáte rozměry jednotlivých bodů. Vybaveno speciálním analytickým softwarem pro výstup zpráv o zkouškách v souladu s normami. Pro rychlou a přesnou analýzu povrchových vlastností VCSEL na výrobních linkách i v laboratořích.